جمعه, ۳۱ فروردین ۱۴۰۳ / بعد از ظهر / | 2024-04-19
تبلیغات
تبلیغات
کد خبر: 6325 |
تاریخ انتشار : ۱۳ اردیبهشت ۱۴۰۱ - ۱۲:۱۱ |
108 بازدید
۰
1
ارسال به دوستان
پ

محققان دانشگاه اصفهان دستگاه طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس(XPS) را که به دلیل مشکلات فنی و تحریم‌های ظالمانه به مدت ۱۲ سال بلااستفاده مانده بود، نصب و راه‌اندازی کردند. به گزارش ادراک خبر، دکتر فتح‌الهی مدیرکل دفتر حمایت و پشتیبانی امور پژوهش وزارت علوم، از راه‌اندازی دستگاه طیف ‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس توسط آزمایشگاه مرکزی دانشگاه […]

محققان دانشگاه اصفهان دستگاه طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس(XPS) را که به دلیل مشکلات فنی و تحریم‌های ظالمانه به مدت ۱۲ سال بلااستفاده مانده بود، نصب و راه‌اندازی کردند.

به گزارش ادراک خبر، دکتر فتح‌الهی مدیرکل دفتر حمایت و پشتیبانی امور پژوهش وزارت علوم، از راه‌اندازی دستگاه طیف ‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس توسط آزمایشگاه مرکزی دانشگاه اصفهان خبر داد و گفت: دستگاه طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس در سال ۱۳۸۸ از محل بودجه ارزی وزارت علوم، تحقیقات و فناوری به سفارش یکی از دانشگاه‌های کشور خریداری شد اما به دلیل نبود امکانات و زیرساخت‌های لازم در آن دانشگاه و نیز عدم همکاری کشور آلمان به عنوان سازنده این دستگاه به جهت تحریم‌های ظالمانه، متاسفانه به مدت ۱۲ سال بدون استفاده مانده بود. 

فتح‌الهی ادامه داد: با انتقال این دستگاه به دانشگاه اصفهان، آزمایشگاه مرکزی دانشگاه، متولی پیگیری امور راه‌اندازی دستگاه شد و با وجود چندین بار مذاکره با شرکت سازنده آلمانی برای نصب و راه‌اندازی این دستگاه، این شرکت به دلیل تحریم‌ها از همکاری خودداری کرد ولی با تلاش‌ها و پیگیری‌های صورت گرفته این دستگاه با همکاری متخصصان ایرانی و اعضای هیات علمی و کارشناسان آزمایشگاه مرکزی دانشگاه اصفهان نصب و راه‌اندازی شد.

وی یادآور شد: با پیگیری‌های مستمر آزمایشگاه مرکزی دانشگاه اصفهان و با حمایت معاونت پژوهشی وزارت علوم، تحقیقات و فناوری، سرانجام این دستگاه جهت نصب و راه اندازی به دانشگاه اصفهان منتقل شد.

مدیرکل دفتر حمایت و پشتیبانی امور پژوهش وزارت علوم خاطر نشان کرد: دستگاه طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس برای شناسایی و تعیین مقدار عناصر روی سطح(فاصله ۱۰ نانومتر) برای تمامی سطوح به جز هیدروژن و هلیم، شناسایی فرمول تجربی، شناسایی حالت شیمیایی و الکترونی هر عنصر روی سطح، شناسایی ناخالصی‌های روی سطح، پروفایل‌های ترکیبی توزیع عنصری در فیلم‌های(لایه‌های) نازک و آنالیز ترکیب نمونه‌ها، هنگامی که باید از تأثیرات مخرب تکنیک‌های اشعه الکترونی، پرهیز شود، کاربرد دارد.

انتهای پیام

لینک کوتاه خبر:
×
  • دیدگاه های ارسال شده توسط شما، پس از تایید توسط ادراك خبر در وب سایت منتشر خواهد شد
  • پیام هایی که حاوی تهمت یا افترا باشد منتشر نخواهد شد.
  • لطفا از تایپ فینگلیش بپرهیزید. در غیر اینصورت دیدگاه شما منتشر نخواهد شد.
  • ارسال دیدگاه برای این مطلب مقدور نمی باشد!